宽禁带半导体器件环境适应性验证技术

汪邦金; 朱华顺; 关宏山

引用本文:	汪邦金,朱华顺,关宏山. 宽禁带半导体器件环境适应性验证技术[J]. 雷达科学与技术, 2011, 9(5): 469-473.[点击复制]
	. [J]. Radar Science and Technology, 2011, 9(5): 469-473.[点击复制]

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宽禁带半导体器件环境适应性验证技术
汪邦金,朱华顺,关宏山
中国电子科技集团公司第三十八研究所

摘要:

应用验证是新型元器件走向实际工程应用必不可少的关键环节。从实际工程应用角度出发,给出了宽禁带半导体(SiC/GaN等)微波功率器件环境适应性验证过程中的验证分级(解决及时发现问题与验证周期、费用矛盾)、验证载体与工程应用统一性设计(器件研制源于工程、用于工程)、验证数据的可对比性设计(验证环节可追溯)方法及相关分析(指导工程设计),为宽禁带半导体微波功率器件的工程化研制提供数据支撑。文中的试验数据和设计思想可作为其他相关工程设计参考。

关键词: 宽禁带半导体应用验证微波模块组件

DOI：

分类号:

基金项目:核心电子器件、高端通用芯片、基础软件产品科技重大专项资金(No.2009ZX01025-001)

Abstract:

Key words: