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引用本文:姜来春. 脉冲雷达数字闭环BIT测试的方法研究[J]. 雷达科学与技术, 2013, 11(3): 316-319.[点击复制]
. [J]. Radar Science and Technology, 2013, 11(3): 316-319.[点击复制]
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脉冲雷达数字闭环BIT测试的方法研究
姜来春
解放军91550部队
摘要:
雷达机内测试(BIT)技术是改善雷达测试性、维修性和故障诊断能力的重要途径,其重要性已经引起了雷达系统设计者和用户的高度重视。在脉冲雷达系统中,通常BIT测试方法不能对脉冲雷达的工作性能作出准确的测试。利用真实目标回波进行在线(BIT)性能测试的方法,扩展了BIT测试范围,对真实雷达回波信号进行测试,判断雷达当前的性能状态。根据对雷达系统的分析和测试需求,提出一种数字闭环BIT方法,把系统原有的BIT故障检测功能延伸到系统性能测试。给出了系统的设计方法和测试流程,测试系统结构简单,易于实现。
关键词:  脉冲雷达  闭环BIT  性能  测试方法
DOI:
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Abstract:
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