|
| 引用本文: | 曹俊锋,方云. 基于CPCI总线的数字板边扫设计[J]. 雷达科学与技术, 2015, 13(4): 444-448.[点击复制] |
| . [J]. Radar Science and Technology, 2015, 13(4): 444-448.[点击复制] |
|
| |
|
|
| 本文已被：浏览 5475次 下载 1396次 |
码上扫一扫！ |
|
|
| 基于CPCI总线的数字板边扫设计 |
|
曹俊锋,方云
|
|
中国电子科技集团公司第三十八研究所
|
|
| 摘要: |
| 在数字化系统的发展中,先进FPGA和DSP等大规模集成电路得以广泛应用,其测试的困难伴随而来。以某电路板为例,进行了可测试性分析,该板应用了高端的FPGA和DSP芯片,以及CPCI总线接口,是数字化整机的典型代表。还介绍了边界扫描测试开发软件Scanworks,并通过Scanworks进行了该板的测试程序集(TPS)开发,通过开发结果来看,该TPS能有效解决CPCI总线形式下数字电路板的边扫测试,能有效覆盖该板的焊接和器件类故障,对于该电路板的批量生产检测和维护有着重要的意义。 |
| 关键词: 可测试性 CPCI总线 TPS开发 边界扫描 |
| DOI： |
| 分类号: |
| 基金项目: |
|
|
|
|
|
|
| Abstract: |
|
| Key words: |
|
|
|
|